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  • 鐵電性能綜合測試儀(適用于鐵電薄膜、鐵電體材料的電性能測量)
    鐵電性能綜合測試儀(適用于鐵電薄膜、鐵電體材料的電性能測量) TDZT-04型鐵電性能綜合測試儀是適用于鐵電薄膜、鐵電體材料(既可塊體材料)的電性能測量,鐵電測試儀可測量鐵電薄膜電滯回線,可測出具有非對稱電滯回線鐵電薄膜的Pr值。
  • 壓電阻抗分析儀(供應北京/上海
    壓電阻抗分析儀(供應北京/上海 JZKC-YDZK03A壓電阻抗分析儀是專門用于壓電材料測試,主要是測試壓電材料的正反諧振頻率,正反諧振阻抗及壓電材料的電容等相關系數,是一款壓電器件的科學研究重要輔助工具,而且可以配合壓陶瓷壓電分析...
  • 積層靜壓電系數測試儀d33測量儀
    積層靜壓電系數測試儀d33測量儀 ZJ-5型積層壓電測試儀(積層靜壓電系數d33測量儀)是為測量積層壓電材料的d33常數而設計的儀器,它可用來測量具有積層大壓電常數的壓電陶瓷,小壓電常數的壓電單晶及壓電高分子材料。ZJ-5型積層靜壓電...
  • ZJ-5型堆棧式壓電陶瓷D33測試儀
    ZJ-5型堆棧式壓電陶瓷D33測試儀 堆棧式壓電陶瓷由多個薄片狀的壓電陶瓷元件通過電極交替堆疊而成。這些壓電陶瓷片通常具有較小的厚度,一般在幾十微米到幾百微米之間,而直徑或邊長則可以根據具體應用需求在幾毫米到幾十毫米范圍內變化。
  • PZT-DJ30/20型堆棧式壓電陶瓷極化裝置
    PZT-DJ30/20型堆棧式壓電陶瓷極化裝置 PZT-DJ30/20型堆棧式壓電陶瓷極化裝置是一種專門應用于堆棧式壓電陶瓷極化的極化裝置,堆棧式壓電陶瓷由多個薄片狀的壓電陶瓷元件通過電極交替堆疊而成。這些壓電陶瓷片通常具有較小的厚度,一般在幾十微...
  • HEM-200 高低溫霍爾效應測試系統
    HEM-200 高低溫霍爾效應測試系統 系統組成:HEM-200 高低溫霍爾效應測試系統本儀器系統由電磁鐵、電磁鐵電源、高精度恒流源、高精度電壓表、矩陣卡、霍爾效應樣品支架、標準樣品、系統軟件組成。本套系統測試應用的是最新的KEITHLEY...
  • HEM-500HA高低溫電磁型
    HEM-500HA高低溫電磁型 HEM-500HA高低溫電磁型全自動霍爾效應測試系統本儀器系統由電磁鐵、電磁鐵電源、高精度恒流源、高精度電壓表、霍爾效應樣品支架、標準樣品、高低溫杜瓦,控溫儀,系統軟件組成。為本儀器系統專門研制的CH...
  • FE-5000型寬量程鐵電性能測試儀
    FE-5000型寬量程鐵電性能測試儀 FE-5000型寬量程鐵電性能測試儀是一款高量程款的鐵電性能材料測試裝置,這款設備可以適用于鐵電薄膜、鐵電體材料(既可塊體材料)的電性能測量,可測量鐵電薄膜電滯回線、可測出具有非對稱電滯回線鐵電薄膜值...
  • JKZC-BMZD01型薄膜介電常數
    JKZC-BMZD01型薄膜介電常數 JKZC-BMZD01型薄膜介電常數(ε)及損耗測試儀(tgd)是目前針對PVDF薄膜材料,是一款真正意義上的絕緣薄膜材料介電常數及介質損耗測試儀。是目前能夠處理的介電常數(ε)和介損(tgd)的圖譜...
  • JKZC-ZCBR9界面材料熱阻測試儀
    JKZC-ZCBR9界面材料熱阻測試儀 JKZC-ZCBR9界面材料熱阻測試儀一款適用于均質及非均質之導熱電絕緣熱界面材料的等效熱傳導系數與熱阻抗測試,如:導熱膏、導熱片、導熱膠、界面材料、相變化材料、陶瓷、金屬、基板、鋁基板、覆銅基板、軟...
  • D33測試儀材料在醫學先進材料試驗室應用
    D33測試儀材料在醫學先進材料試驗室應用 ZJ-4型壓電測試儀(靜壓電系數d33測量儀)是為測量壓電材料的d33常數而設計的專用儀器,它可用來測量具有大壓電常數的壓電陶瓷,小壓電常數的壓電單晶及壓電高分子材料。此外,也可測量任意取向壓電單晶以...
  • 復合型多功能薄膜及陶瓷極化裝置(三合一)
    復合型多功能薄膜及陶瓷極化裝置(三合一) PZT-FJH30 /3真空、空氣,氣氛,硅油壓電陶瓷高壓極化裝置(30KV以下壓電陶瓷及壓電薄膜1-3片試樣)主要用于30KV以下壓電陶瓷或其它壓電材料的極化處理,廣泛應用于高校及從事壓電材料研究或...
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